Hioki RM2610 to system pomiarowy służący do kwantyfikacji oporu warstwy kompozytowej oraz oporu interfejsu w elektrodach akumulatorów litowo-jonowych (LIB). Urządzenie umożliwia precyzyjną analizę właściwości rezystancyjnych poprzez izolację i wizualizację dwóch kluczowych parametrów: rezystancji warstwy kompozytowej oraz rezystancji interfejsu między warstwą kompozytową a kolektorem prądowym. Pomiar odbywa się za pomocą dedykowanego osprzętu testowego wyposażonego w macierz sond pomiarowych, a wyniki są przetwarzane przy użyciu zaawansowanych technik analitycznych Hioki. RM2610 to niezastąpione narzędzie w procesie badawczo-rozwojowym oraz kontroli jakości akumulatorów litowo-jonowych.
Zawartość opakowania:
Zastosowania:
Gwarancja: 12 miesięcy
Cel pomiaru
Arkusze elektrod dodatnich i ujemnych do baterii litowo-jonowych
Mierzone parametry
Rezystywność kompozytowa [Ωcm]
Rezystancja interfejsu (rezystancja styku) między warstwą kompozytu a kolektorem prądu [Ωcm²]
Metoda obliczeniowa
Odwrotna analiza problemowa rozkładu potencjału metodą objętości skończonych
Informacje niezbędne do obliczeń
Grubość warstwy kompozytu [μm] (na 1 stronę)
Grubość kolektora prądu [μm]
Rezystywność objętościowa kolektora prądu [Ωcm]
Czas pomiaru
Kontrola styków + pomiar potencjału: ok. 30 sek.
Obliczenia: ok. 35 sek. (na komputerze PC z procesorem Intel Core i5-7200U)
Uwaga! Czas pomiaru może się różnić w zależności od celu pomiaru i mocy obliczeniowej komputera.
Pomiar napięcia
Od 10 μA (min.) do 10 mA (max.)
Liczba sond
46
Rekomendowana specyfikacja PC
Procesor: 4 lub więcej wątków
RAM: 8 GB lub więcej (wymagane 4 GB)
System operacyjny: Windows 7 (64-bitowy), 8 (64-bitowy), 10 (64-bitowy)
Funkcja pomiaru temperatury
Mierzy temperaturę w pobliżu uchwytu testowego
Design: Proformat