Zaloguj się
Koszyk
HIOKI IM7581 to analizator impedancji Hioki, zaprojektowany z myślą o pomiarach częstotliwościowych w zakresie od 100 kHz do 300 MHz, oferujący błyskawiczne czasy testów, aż do 0,5 ms. To urządzenie idealnie sprawdza się w masowej produkcji komponentów takich jak ferrytowe beadsy czy induktory SMD, zapewniając szybkie i precyzyjne pomiary impedancji. Jego dokładność podstawowa na poziomie ±0,72% rdg. oraz możliwość pracy w trybie RF I-V zapewniają niezawodne wyniki nawet w najbardziej wymagających aplikacjach.
IM7581 jest wyposażony w kompaktową obudowę pół-rackową oraz palmową głowicę testową, co zapewnia oszczędność miejsca i łatwość w użytkowaniu, zwłaszcza na liniach produkcyjnych. Dzięki wbudowanej funkcji weryfikacji kontaktu (DCR testowanie, Hi-Z reject lub analiza przebiegów), urządzenie gwarantuje wysoką niezawodność pomiarów. W trybie Analyzer Mode możliwe jest wykonywanie pomiarów zakresu częstotliwościowego, poziomowego oraz interwałów czasowych, co czyni IM7581 wszechstronnym rozwiązaniem dla różnych zastosowań w badaniach i testowaniu komponentów elektronicznych.
W połączeniu z uchwytem testowym IM9201, który obsługuje sześć rozmiarów SMD, IM7581 umożliwia łatwą i niezawodną obsługę próbek, co czyni go doskonałym rozwiązaniem do zastosowań przemysłowych i laboratoryjnych.
Dostępne modele urządzenia
Zawartość opakowania:
Zastosowania:
Gwarancja: 36 miesięcy
Tryby pomiaru
Tryb LCR
Tryb analizatora (przemiatanie z częstotliwością pomiaru i poziomem pomiaru)
Tryb pomiaru ciągłego
Mierzone parametry
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Mierzony zakres
100 mΩ do 5 kΩ
Zakres wyświetlania
Z: 0.00 m do 9.99999 GΩ
Rs, Rp, X: ± (0.00 m do 9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n do 9.99999 GH)
Q: ± (0.00 do 9999.99)
θ: ± (0.000° do 180.000°)
Cs, Cp: ± (0 p do 9.99999 GF)
D: ± (0.00000 do 9.99999)
Y: (0.000 n do 9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n do 9.99999 GS)
Δ %: ± (0.000 % do 999.999 %)
Dokładność
Z: ±0.72 % rdg
θ: ±0.41°
Pomiar częstotliwości
1 kHz do 300 MHz (rozdzielczość 5 cyfr)
Poziom sygnału pomiarowego
Moc: -40 dBm do +7 dBm
Napięcie: 4 mV do 1001 mVrms
Prąd: 0.09 mA do 20.02 mArm
Moc, napięcie i prąd konfigurowane przez użytkownika
Impedancja wyjściowa
50 Ω
Wyświetlacz
8,4-calowy kolorowy wyświetlacz TFT z ekranem dotykowym
Prędkości pomiaru
FAST: 0.5 ms
MEDIUM: 0.9 ms
SLOW1: 2.1 ms
SLOW2: 3.7 ms
Funkcje
Kontrola styków
Komparator
Pomiar BIN (klasyfikacja)
Ładowanie/zapisywanie panelu
Funkcja pamięci
Analiza obwodów zastępczych
Kompensacja korelacji
Interfejs
Handler
USB
LAN
RS-232C (opcjonalnie)
GP-IB (opcjonalnie)
Zasilanie
100 do 240 V AC, 50/60 Hz, 70 VA
Gwarancja i wymiary
Gwarancja: 36 miesięcy
Jednostka główna:
Wymiary (wys. x szer. x dł.): 200 x 268 x 215 mm
Waga: 6.5 kg
Głowica testowa:
Wymiary (wys. x szer. x dł.): 55 x 24 x 61 mm
Waga: 175 g
Dostępne modele urządzenia
Akcesoria w zestawie
Dysk aplikacji LCR (instrukcja obsługi komunikacji) ×1
Głowica testowa ×1
Kabel połączeniowy ×1
Przewód zasilający ×1
Akcesoria dodatkowe
Komunikacja z komputerem:
Sonda i uchwyty testowe:
Design: Proformat